طیف سنجی فلوئورسانس پرتو ایکس یا XRF از روش های تجزیه عنصری است که به علت سرعت زیاد، برای تجزیه نمونه های جامد در زمین شناسی و در صنایع مختلف که تعداد نمونه ها زیاد است و به سرعت عمل زیادی نیز احتیاج است، استفاده وسیعی دارد. در طیف سنجی فلوئورسانس پرتوایکس، باریکه پرتوایکس به نمونه می تابد و در اثر برانگیختگی اتم ها و انتقال الکترونی در لایه های مختلف اتم، پرتوایکس ثانویه، تولید می شود که با تعیین طول موج یا انرژی پرتوایکس ثانویه که مشخصه اتم است، می توان عناصر موجود در نمونه را اندازه گیری کرد. با استفاده از طیفسنج XRF، می توان آنالیز عنصری را به ‌صورت کیفی و نیمه کمی به خصوص در مورد نمونه های معدنی، باستان شناسی، زمین شناسی، کانی ها، سنگ ها، شیشه، سیمان، سرامیک ها و آلیاژهای فلزی انجام داد که ردیابی عناصر از سدیم تا اورانیوم را ممکن می کند. دقت این روش، برای عناصر سنگین بیشتر است.

در حال نمایش یک نتیجه

مشاهده فیلترها
نمایش 9 24 36